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德國西門子SIEMENS物位測(cè)量基本原理：
在物位側(cè)量中，盡管各種測(cè)量方法所用的技術(shù)各不相同，但可把它們歸納為以下幾種測(cè)量原理
（1）基于力學(xué)原理
敏感元件所受到的力（壓力）的大小與物位成正比，它包括靜壓式、浮力式和重錘式物位測(cè)量等。
（2）基于相對(duì)變化原理
當(dāng)物位變化時(shí)，物位與容器底部或頂部的距離發(fā)生改變，通過測(cè)量距離的相對(duì)變化可獲得物位的信息。這種測(cè)量原理包括聲學(xué)法、微波法和光學(xué)法等。
（3）基于某強(qiáng)度性物理量隨物位的升高而增加原理
例如對(duì)射線的吸收強(qiáng)度，電容器的電容量等。
日本西門子SIEMENS物位測(cè)量主要方法：在實(shí)際生產(chǎn)中，物位測(cè)量對(duì)象有液位也有料位等，有幾十米高的大容器、也有幾毫米的微型容器，介質(zhì)的特性更是千差萬別。因此，物位測(cè)量方法很多，以適應(yīng)各種不同的測(cè)量要求。
目前常用的物位測(cè)量方法可分為下列幾種。
靜壓式物位測(cè)量
根據(jù)流體靜力學(xué)原理檢測(cè)物位。靜止介質(zhì)內(nèi)某一點(diǎn)的靜壓力與介質(zhì)上方自由空間壓力之差，與該點(diǎn)上方的介質(zhì)高度成正比，因此可利用差壓來檢測(cè)液位。這種方法一般只用在液位的檢測(cè)。主要采用玻璃管及壓力（壓差）儀表來側(cè)量。
浮力式物位測(cè)量
利用漂浮于液面上浮子隨液面變化的位置，或者部分浸沒于液體中的物質(zhì)的浮力隨液位變化來檢測(cè)液位。前者稱為恒浮力法，后者稱變浮力法，二者均用于液位的測(cè)量。恒浮力式物位測(cè)量包括浮標(biāo)式、浮球式和翻板式等各種方法。變浮力式物位測(cè)量方法中典型的敏感元件是浮筒，它是利用浮筒由于液體浸沒高度不同以致所受的浮力不同來檢測(cè)液位的變化。
電氣式物位測(cè)量
把敏感元件做成一定形狀的電極置于被測(cè)介質(zhì)中，根據(jù)電極之間的電氣參數(shù)（如電阻、電容等）隨物位變化的改變來對(duì)物位進(jìn)行檢測(cè)。這種方法既可用于液位檢測(cè)，也可用于料位檢測(cè)。
聲學(xué)式物位側(cè)量
利用超聲波在介質(zhì)中的傳播速度及在不同相界面之間的反射特性來側(cè)量物位。液位和料位的測(cè)量都可以用此方法。
射線式物位測(cè)量
放射性同位素所放出的射線（如β射線、γ射線等）穿過被測(cè)介質(zhì)（液體或固體顆粒）因被其吸收而減弱，吸收程度與物位有關(guān)。由于射線的可穿透性，它們常被用于情況特殊或環(huán)境惡劣的場(chǎng)合實(shí)現(xiàn)各種參數(shù)的非接觸式測(cè)量，如位移、材料的厚度及成分、流體密度、流量、物位等。利用這種方法可實(shí)現(xiàn)物位的非接觸式測(cè)量。
除此之外還有微波法、光學(xué)法、重錘法等。
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